Новосибирские физики разработали нанометровую «линейку»
Разработана «нанолинейка» на основе атомных ступеней для электронной промышленности. Это единственный комплекс мер в РФ и мире, охватывающий диапазон от долей нанометров до сотен нанометров.
Отличие наших мер от тех, что широко используются сейчас — это прослеживаемость: мы можем одновременно измерить объекты, размеры которых доли нанометра и десятки нанометров. Наши меры перекрывают весь диапазон от 0,3 до 100 нм. Сейчас для измерения объектов в сотни нанометров используется одна «линейка», а для единиц нанометров — другая. Это приводит к определенным сложностям: проводится компарирование (сличение) линеек, определяется масштаб неизбежно возникающих ошибок, — объяснил замдиректора по развитию ИФП СО РАН, первый автор статьи в «ACS Applied Materials & Interfaces», кандидат физико-математических наук Дмитрий Щеглов.
<...> меры высоты были включены в Федеральный информационный фонд (ФИФ). Включение средства измерения в ФИФ позволяет использовать его в сферах государственного регулирования, а дополнительно — в качестве эталона определенного ранга в поверочной схеме, если он по своим характеристикам ему соответствует. За разработкой поверочной схемы нужно обращаться во Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д. И. Менделеева, где хранится первичный эталон метра, — рассказал начальник отделения ВНИИОФИ доктор технических наук Владимир Минаев.
Мы научились управлять поверхностью кристалла кремния фактически с атомной точностью и использовать кинетические нестабильности. Упрощенно говоря, управлять движением атомных ступеней, как потоком машин на дороге, собирая их в пробку или рассеивая, включив красный или зеленый светофор, — прокомментировал Щеглов.









