Новосибирские физики разработали нанометровую «линейку»

Мера высотой 26,025 нанометра. Резкая макроступень внизу изображения состоит из 83 моноатомных ступеней высотой 0,31356 нм, которые подсчитывают на разреженном участке вверху изображения (штриховой прямоугольник, его увеличенный фрагмент — справа)
Мера высотой 26,025 нанометра. Резкая макроступень внизу изображения состоит из 83 моноатомных ступеней высотой 0,31356 нм, которые подсчитывают на разреженном участке вверху изображения (штриховой прямоугольник, его увеличенный фрагмент — справа). Иллюстрация: Институт физики полупроводников им А.В. Ржанова СО РАН

Разработана «нанолинейка» на основе атомных ступеней для электронной промышленности. Это единственный комплекс мер в РФ и мире, охватывающий диапазон от долей нанометров до сотен нанометров.

Как рассказали в пресс-службе, разработка ученых Института физики полупроводников им А.В. Ржанова СО РАН (ИФП СО РАН) — апробированные кремниевые меры высоты и плоскостности — востребована среди производителей высокоточной измерительной аппаратуры (в частности, атомно-силовых микроскопов), на предприятиях микро- и наноэлектроники, высокоточного машиностроения. 
 
Обычно для измерения объектов, размером в доли нанометра и десятки нанометров, используются разные масштабные «линейки», что  приводит к увеличению количества искажений и ошибок. Нанометровая «линейка» — это единственный в мире вид мер, охватывающий диапазон от сотых долей нанометра до десятков нанометров.
Отличие наших мер от тех, что широко используются сейчас — это прослеживаемость: мы можем одновременно измерить объекты, размеры которых доли нанометра и десятки нанометров. Наши меры перекрывают весь диапазон от 0,3 до 100 нм. Сейчас для измерения объектов в сотни нанометров используется одна «линейка», а для единиц нанометров — другая. Это приводит к определенным сложностям: проводится компарирование (сличение) линеек, определяется масштаб неизбежно возникающих ошибок, — объяснил замдиректора по развитию ИФП СО РАН, первый автор статьи в «ACS Applied Materials & Interfaces», кандидат физико-математических наук Дмитрий Щеглов.
По словам ученого, мера плоскостности представляет собой идеально гладкую поверхность кристалла кремния, диаметром до миллиметра, а мера высоты — «стопка» его атомных слоев. Высота одного слоя  — 0,31356 нанометров. Это примерно в двести тысяч раз тоньше человеческого волоса. С помощью новых мер можно проводить измерения объектов, размеры которых сопоставимы с атомными и даже меньше их. Они могут использоваться для усовершенствования и калибровки измерительного оборудования — оптических и атомно-силовых микроскопов, развития физических основ новой электроники. 
<...> меры высоты были включены в Федеральный информационный фонд (ФИФ). Включение средства измерения в ФИФ позволяет использовать его в сферах государственного регулирования, а дополнительно — в качестве эталона определенного ранга в поверочной схеме, если он по своим характеристикам ему соответствует. За разработкой поверочной схемы нужно обращаться во Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д. И. Менделеева, где хранится первичный эталон метра, — рассказал начальник отделения ВНИИОФИ доктор технических наук Владимир Минаев.
Разработка подобных мер стала возможным благодаря использованию эффекта, открытого директором ИФП СО РАН академиком А.В. Латышевым в конце 1980-х годов — явления эшелонирования атомных ступеней под действием постоянного тока. Воздействуя на кристалл, можно «разогнать» ступени и увеличить площадь гладкой поверхности, или собрать нужное количество ступеней в более плотную «лестницу» (эшелон ступеней) и, соответственно, точно определить его высоту.
Мы научились управлять поверхностью кристалла кремния фактически с атомной точностью и использовать кинетические нестабильности. Упрощенно говоря, управлять движением атомных ступеней, как потоком машин на дороге, собирая их в пробку или рассеивая, включив красный или зеленый светофор, —   прокомментировал Щеглов.
По его словам, во многом разработка опережает существующие технологии и находится в начале индустриального применения. Ученые считают, что на данном этапе оптимально было бы создать прибор, который позволит использовать потенциал разработки по максимуму, что в итоге даст хороший эффект по отношению к микроэлектронной отрасли, отрасли научного приборостроения и высокоточного приборостроения.
Самое читаемое
  • Реальная продуктовая инфляция в России составит 50-100% по итогам 2024 г.Реальная продуктовая инфляция в России составит 50-100% по итогам 2024 г.
  • Уральская компания «СТЕМ» собирается поставить в Казахстан 200 тонн палочек для мороженогоУральская компания «СТЕМ» собирается поставить в Казахстан 200 тонн палочек для мороженого
  • В одном из крупнейших застройщиков России меняется генеральный директорВ одном из крупнейших застройщиков России меняется генеральный директор
  • «Больше, чем девелопмент». Крупный уральский застройщик объявил о ребрендинге«Больше, чем девелопмент». Крупный уральский застройщик объявил о ребрендинге
  • Россия обсуждает строительство трубопровода для экспорта газа в Китай через КазахстанРоссия обсуждает строительство трубопровода для экспорта газа в Китай через Казахстан
Наверх
Чтобы пользоваться всеми сервисами сайта, необходимо авторизоваться или пройти регистрацию.
  • вспомнить пароль
Вы можете войти через форму авторизации зарегистрироваться
Извините, мы не можем обрабатывать Ваши персональные данные без Вашего согласия.
  • Укажите ваше имя
  • Укажите вашу фамилию
  • Укажите E-mail, мы вышлем запрос подтверждения
  • Не менее 8 символов
Если вы не хотите вводить пароль, система автоматически сгенерирует его и вышлет на указанный e-mail.
Я принимаю условия Пользовательского соглашения и даю согласие на обработку моих персональных данных в соответствии с Политикой конфиденциальности.Извините, мы не можем обрабатывать Ваши персональные данные без Вашего согласия.
Вы можете войти через форму авторизации
Самое важное о бизнесе.